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膜厚計
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チェック | |
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基本情報 |
高性能膜厚計レプトスコープ 2042
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メーカー | 日本マテック |
測定範囲 | 0-500μm |
測定対象 |
磁性体母材上の被膜
※単極式 マイクロプローブ 90°使用の場合 |
測定方式 | 磁性体母材 DIN50981, ISO2178 電磁法による 非磁性体母材 DIN50984, ISO2360 渦流法による |
分解能 | 最小分解能 0.1μm(100μmまで) |
記録 | - |
電源 |
単3アルカリ電池2本、33時間使用(標準)
単3充電式電池使用可能 |
重量・サイズ |
220g
81(W)×121(H)×32(D)mm |
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